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ficonTEC T1200 晶圆测试设备
●
适应
6
至
12
英寸晶圆
●
可测试
IL/PDL/RF/DC
●
晶圆级测试
●
光栅耦合
/
边耦合测试
●
快速耦合
(<1s)
●
超高耦合重复性
(<0.1dB)
●
设备尺寸
: 1
2
00X1
2
00X2000
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